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参数资料
| 型号： | 1215E |
| 英文描述： | TEST/JTAG SUPPORT|CMOS|QFP|48PIN|PLASTIC |
| 中文描述： | 测试/ JTAG支持|的CMOS | QFP封装| 48PIN |塑料 |
| 文件页数： | 80/92页 |
| 文件大小： | 1041K |
| 代理商： | 1215E |
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Agere Systems Inc.
81
User Manual
April 2001
Advanced Operational Mode
497AE and 1215E Boundary-Scan Master 2
Appendix D—BSM2 (1215E) Data Sheet (continued)
Read/Write Cycle Timing—Asynchronous Operation (continued)
Notes:
1.
CE* goes to logic 0 (becomes active).
2.
RDY becomes valid. The interval A represents the best case timing for RDY going to logic 1 after CE* becomes active. The worst case is
approximately 3 cycles of the clock signal on TCKIN after the previous CE* access.
3.
Controlling processor drives valid address (RA[4:0]), data (D[15:0]) and control (R/W* = 0) signals. The three sets of signals are all latched
on the positive going edge of CE* (end of cycle) for writing. B is the set-up time for these signals with respect to CE*.
4.
CE* goes to logic (becomes inactive). C is the write cycle hold time with respect to CE*.
5.
RDY goes to logic 0. Data and address bus signals are no longer detected by the device.
Figure 16. 1215E Write Cycle Timing Diagram
CE*
R/W*
RA[4:0]
D[15:0]
RDY
A
B
C
1
2
3
4
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PDF描述 |
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参数描述 |
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