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参数资料
| 型号： | 1215E |
| 英文描述： | TEST/JTAG SUPPORT|CMOS|QFP|48PIN|PLASTIC |
| 中文描述： | 测试/ JTAG支持|的CMOS | QFP封装| 48PIN |塑料 |
| 文件页数： | 73/92页 |
| 文件大小： | 1041K |
| 代理商： | 1215E |
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Agere Systems Inc.
75
User Manual
April 2001
Advanced Operational Mode
497AE and 1215E Boundary-Scan Master 2
Appendix C—BSM2 (497AE) Data Sheet (continued)
ac Timing Characteristics—Synchronous Operation
The ac timing parameters shown in this section are measured under the following worst-case-slow testing condi-
tions:
s
Ambient temperature: 85 °C
s
Power supply voltage: 3.0 V
s
Output capacitive load: 70 pF
Table 12. 497AE Input Clock
Table 13. 497AE Input Signals
Table 14. 497AE Output Signals
Notes:
NT* is an open-collector output.
All outputs are disabled (3-stated) during chip reset and self-test operations.
Table 15. 497AE Bidirectional Signals
Parameter
Min
Typ
Max
Unit
TCKIN Frequency
—
40
MHz
Rise Time
—
2
ns
Fall Time
—
2
ns
Low Pulse Width
7
—
ns
High Pulse Width
7
—
ns
Period
25
—
ns
Input Signal
Max Rise
Max Fall
Clock Edge
Min Setup
Min Hold
Typ Int Pull-Up
CE*
2 ns
TCKIN
↑
10 ns
5 ns
none
RA
2 ns
TCKIN
↑
8 ns
5 ns
none
R/W*
2 ns
TCKIN
↑
10 ns
5 ns
none
DAV*
2 ns
TCKIN
↑
10 ns
5 ns
none
D[7:0]
2 ns
TCKIN
↑
8 ns
5 ns
none
RST*
2 ns
TCKIN
↑
10 ns
5 ns
none
TDI
2 ns
TCKIN
↑
10 ns
5 ns
20 k
Output
Ref Signal
Max Prop Delay
INT*
TCKIN
↑
15 ns
D[7:0]
TCKIN
↑
0 ns
TCK
TCKIN
↑
15 ns
TDO
TCKIN
↑
16 ns
TMS
TCKIN
↑
16 ns
Parameter
Min
Typ
Max
Unit
D[7:0] State Transition Time (input to output)
—
15
ns
D[7:0] State Transition Time (output to input)
—
15
ns
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