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参数资料
| 型号： | 1215E |
| 英文描述： | TEST/JTAG SUPPORT|CMOS|QFP|48PIN|PLASTIC |
| 中文描述： | 测试/ JTAG支持|的CMOS | QFP封装| 48PIN |塑料 |
| 文件页数： | 75/92页 |
| 文件大小： | 1041K |
| 代理商： | 1215E |
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Agere Systems Inc.
77
User Manual
April 2001
Advanced Operational Mode
497AE and 1215E Boundary-Scan Master 2
Appendix D—BSM2 (1215E) Data Sheet
Introduction
The BSM2 (1215E) is a 48-pin, 0.5 mm (0.50 mm) pitched, surface-mount, plastic, TQFP device with TTL-compat-
ible inputs and outputs. The device is designed using the Agere 0.35 m, 3 V design enhanced CMOS technology.
The primary function of the BSM2 is to interface the serial ANSI/
IEEE Std. 1149.1-1990 test access port (TAP) with
the parallel bus of either a controlling processor or conventional automatic test equipment (ATE). With the BSM2,
B-S based board and system testing can be improved in both efficiency and effectiveness. Specifically, the BSM2
enables a system test and diagnostics (T&D) master to access and control a number of slave boards over a paral-
lel T&D bus.
Pin Descriptions
The 1215 has 38 functional pins. Four of the ten remaining pins are used for power, and the other six for ground.
Pin names are shown in Figure 14.
5-7258F
Notes:
Package: 48-pin TQFP.
Device Code: 1215E.
Dimensions without leads: 7.0 mm x 7.0 mm.
Dimensions with leads: 9.0 mm x 9.0 mm.
Pin Spacing: 0.50 mm.
Figure 14. BSM2 Pin Diagram (Package: 48-pin TQFP; Device Code: 1215E)
TOE*
PWR
TCKIN
USERIN
GND
USEROUT0
TRST*
TDI
USEROUT1
RST*
SC0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
BSM2
1215E
SC1
12
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
D4
GND
D3
D15
D2
D14
D13
D1
GND
D0
PWR
25
D12
TCK
IN
T*
GND
TD
O
PW
R
D8
D9
D10
GND
D11
RDY
13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
TM
S
24
48 47 46 45 44 43 42 41 40 39 38
RA0
R/
W
*
RA1
CE*
RA2
RA3
RA4
GND
D7
D6
PW
R
37
D5
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PDF描述 |
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参数描述 |
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