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参数资料
型号： 1215E
英文描述： TEST/JTAG SUPPORT|CMOS|QFP|48PIN|PLASTIC
中文描述： 测试/ JTAG支持|的CMOS | QFP封装| 48PIN |塑料
文件页数： 63/92页
文件大小： 1041K
代理商： 1215E
66
Agere Systems Inc.
User Manual
April 2001
Advanced Operational Mode
497AE and 1215E Boundary-Scan Master 2
Appendix C—BSM2 (497AE) Data Sheet
Introduction
The BSM2 (497AE) is a 28-pin, 50-mil (1.27 mm)
pitched, surface-mount, plastic, SOJ device with
TTL-compatible inputs and outputs. The device is
designed using the Agere 0.35 m, 3 V design
enhanced CMOS technology. The primary function of
the BSM2 is to interface the serial ANSI/
IEEE Std.
1149.1-1990 test access port (TAP) with the parallel
bus of either a test and diagnostic (T&D) processor
(controlling processor) or conventional automatic test
equipment (ATE). With this device, B-S based board
and system testing can be improved in terms of both
efficiency and effectiveness. Specifically, the BSM2
enables a system T&D master to easily access and
control a number of slave boards over a parallel T&D
bus.
The 497AE conforms to JEDEC solid-state product
outlines standard MO-088, details AA through AF for
the small-outline J-lead 300 mil (7.62 mm) body family.
The footprint is JEDEC standard compatible and the
leads are the same shape, pitch, and distance from the
bottom of the package as required by the standard.
Pin Descriptions
The BSM2 has 23 functional pins. Two of the five
remaining pins are used for power, and the other three
for ground. Pin names are shown in Figure 6.
5-6318a (F)
Notes:
Package: 28-pin SOJ.
Device Code: 497AE.
Dimensions: 18.03 mm x 7.62 mm.
Pin Spacing: 1.27 mm.
Figure 6. BSM2 Pin Diagram (Package: 28-pin
SOJ; Device Code: 497AE)
D7
D6
D5
D4
GND
D3
D2
D1
D0
PWR
BSM_MD*
TMS
RDY
GND
CE*
R/W*
RA
DAV*
PWR
TCKIN
GND
TDI
RST*
TRST*
SYNC_HIF*
TCK
INT*
TDO
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
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